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基于單片機的頻率特性測試儀設計測試測量

发布时间:2019-11-09 03:30:53

基于单片机的频率特性测试仪设计 - 测试测量 - 电子工程

AD9851所产生的信号直接由器件内部的DAC输出,内部不含低通滤波器,故要对其输出信号进行滤波处理

相频特性测试电路

如图3所示,鉴相电路将输入和输出信号分别通过电压比较器整形为方波,然后送鉴相器,经过低通滤波器取出直流成分,得到被测络相移信号,送 A/D进行数据采集本电路采用CD4046锁相环的异或鉴相器进行鉴相但是其只能给出相移的大小信息,无法判断超前与滞后因此,需要另加一个相位移极性判别电路

幅频特性测试电路

如图4所示,采用有源峰值检波器实现峰值测量,峰值检波器将被测络的输入和输出信号的峰值检出,再送至A/D转换器完成量化实际上,由于信号源的D/A及低通滤波器的特性能保证在100Hz~100kHz范围内的幅值保持不变,所以可以省去一路峰值检波器及A/D,而只采集被测络的输出信号

在系统中采用二极管包络检峰法利用二极管幅度检测的方法,得到信号的正峰值此法检测的信号范围小,但精度高,能够满足该系统的幅频特性的测试要求因此采用此方案利用检波二极管4088对输出信号检测,得到与信号峰值成比例关系的直流信号,在经过运算放大器CA3140 调整比例系数以便于单片机采样电路如图5所示

结语

设计了一个基于单片机频率特性测试仪的成品该系统基本达到了全数字化,这有利于缩小仪器的体积、减轻重量、降低成本,为用户携带提供了方便

参考文献:

[1] 操长茂. 基于DDS的信号发生器的设计[J]. 半导体技术, 2003,28(12):

[2] 魏春英, 李虹. 基于DDS的信号发生器的设计[J]. 宁夏工程技术,2009,8(4):

[3] 王文理, 王丽. DDS在数字频率特性测试仪中的应用[J]. 国外电子元器件,2007,1:

[4] 伍玉, 夏新凡. 频率特性测试仪的设计[J]. 电子设计工程,2009,17(2):

[5] 肖炎根.基于DDS的数字移相正弦信号发生器的设计[J].电子元器件应用, 2009,11(12):

作者:韩忠华 马斌 王石 王长涛 沈阳建筑大学信息学院 时间:

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